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Advanced Laser Diode Reliability - Massimo Vanzi - Mitsuo Fukuda - Giovanna Mura - Laurent Bechou

Advanced Laser Diode Reliability - Massimo Vanzi - Mitsuo Fukuda - Giovanna Mura - Laurent Bechou

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Advanced Laser Diode Reliability

Massimo Vanzi - Mitsuo Fukuda - Giovanna Mura - Laurent Bechou
pubblicato da Elsevier Science

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Advanced Laser Diode Reliability focuses on causes and effects of degradations of state-of-the-art semiconductor laser diodes. It aims to provide a tool for linking practical measurements to physical diagnostics. To this purpose, it reviews the current technologies, addressing their peculiar details that can promote specific failure mechanisms. Two sections will support this kernel: a) Failure Analysis techniques, procedures and examples; b) Device-oriented laser modelling and parameter extraction.

Talk about Natural continuity with the most widespread existing textbooks, published by Mitsuo Fukuda
Present the extension to new failure mechanisms, new technologies, new application fields, new environments
Introduce a specific self-consistent model for the physical description of a laser diode, expressed in terms of practically measurable quantities

Dettagli

Generi Scienza e Tecnica » Ingegneria e Tecnologia » Ingegneria elettronica e delle comunicazioni » Tecnologia, Altri titoli

Editore Elsevier Science

Formato Ebook con Adobe DRM

Pubblicato 24/07/2021

Lingua Inglese

EAN-13 9780081010891 9780081010891

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