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Advanced Metrology - Paul J. Scott - X. Jane Jiang
Advanced Metrology - Paul J. Scott - X. Jane Jiang
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Advanced Metrology

Paul J. Scott - X. Jane Jiang
pubblicato da Elsevier Science

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Advanced Metrology: Freeform Surfaces provides the perfect guide for engineering designers and manufacturers interested in exploring the benefits of this technology. The inclusion of industrial case studies and examples will help readers to implement these techniques which are being developed across different industries as they offer improvements to the functional performance of products and reduce weight and cost.

  • Includes case studies in every chapter to help readers implement the techniques discussed
  • Provides unique advice from industry on hot subjects, including surface description and data processing
  • Features links to online content, including video, code and software

Dettagli down

Generi Scienza e Tecnica » Ingegneria e Tecnologia » Ingegneria meccanica e dei materiali

Editore Elsevier Science

Formato Ebook con Adobe DRM

Pubblicato 08/04/2020

Lingua Inglese

EAN-13 9780128218167

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