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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis - Joseph I. Goldstein - Dale E. Newbury - Joseph R. Michael - Nicholas W.M. Ritchie - John Henry J. Scott - David C. Joy
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis - Joseph I. Goldstein - Dale E. Newbury - Joseph R. Michael - Nicholas W.M. Ritchie - John Henry J. Scott - David C. Joy

Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Joseph I. Goldstein - Dale E. Newbury - Joseph R. Michael - Nicholas W.M. Ritchie - John Henry J. Scott - David C. Joy
pubblicato da Springer Verlag New York Inc.

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Generi Professional & Technical » Chemistry & Industrial Chemistry » Physics » Engineering , Science & Nature » Science-Reference

Editore Springer Verlag New York Inc.

Formato Hardback

Pubblicato 18/11/2017

Pagine 550

Lingua Inglese

Isbn o codice id 9781493966745

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